DX-S整合了爱克发DirectriX和Scanhead这两种突破性的技术，填补了当前数字化X线成像系统系统的缺点，提供高超的图像质量，并且快速灵活。通过将此系统放置在检测室里，放射医生在图像捕获和处理时能够与患者在一起,提高患者满意度和舒适度，并确保检查质量从而节省检查时间。

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    核心技术之一：晶体针状荧光闪烁层DirectriX（TM）探测器

    Agfa全新DX-S突破性使用了呈聚合晶体排列的针状溴化铯荧光闪烁记忆涂层，除彻底排除潜影散射外，由于晶体之间不再使用任何粘合剂，单位体积内所含针状荧光物质大大多于传统的颗粒状荧光物质，其量子探测效率（DQE）亦随之大幅提高，实测显示DirectriX探测器的DQE值是普通CR的二倍以上。与DRDetector相比较而言，DX-S探测器具有相同的DQE值。但由于其独立于设备本身，更便于携带移动使用。结果是，更高的图像锐利清晰度，更高的低密度分辨率及更低的X线剂量需求。

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    核心技术之二：行扫描头Scanhead(TM)

    Agfa全新Scanhead(TM)行扫描头科技突破性地使用一整排的发射头和采集头。并且，将发射头与采集头合二为一在同一机械装置内，大大提高了成像速度，减小了设备体积。

    针状探测器于行扫描头的结合使用更造就了DX-S二倍于当前CR的量子探测效率（DQE），其DQE值已与目前的主流DR系统相当。亦大幅提高了图像的读取速度及大幅缩小了及其体积。